Scanning elektronenmicroscoop

Scanning elektronenmicroscoop (SEM), type elektronenmicroscoop, ontworpen voor het direct bestuderen van de oppervlakken van vaste objecten, die gebruik maakt van een bundel gerichte elektronen met relatief lage energie als een elektronensonde die regelmatig wordt gescand over het monster. De elektronenbron en elektromagnetische lenzen die de bundel genereren en concentreren zijn gelijkaardig aan die beschreven voor de transmissie elektronenmicroscoop (TEM)., The action of the electron beam stimulates emission of high-energy backscattered electrons and low-energy secondary electrons from the surface of the specimen.

Lees meer over dit onderwerp

oppervlakteanalyse: Scanning elektronenmicroscopie

scannen elektronenmicroscopie (sem) is in principe een topografische techniek. In SEM wordt een bundel elektronen gescand over een steekproef, en de…,

Er zijn geen uitgebreide preparatietechnieken nodig voor onderzoek in de SEM, en er kunnen grote en omvangrijke specimens worden ondergebracht. Het is wenselijk dat het monster elektrisch geleidend wordt gemaakt; anders wordt geen scherp beeld verkregen., Geleidbaarheid wordt meestal bereikt door het verdampen van een film van metaal, zoals goud, 50-100 angstroms dik op het monster in een vacuüm (een dergelijke dikte heeft geen materiële invloed op de resolutie van het oppervlak details). Indien de SEM echter bij 1-3 kilovolt energie kan worden gebruikt, kunnen zelfs niet-geleidende monsters worden onderzocht zonder dat een metalen coating nodig is.,

Scanninginstrumenten zijn gecombineerd met TEMs om scanningstransmissieelektronenmicroscopen te creëren., Deze hebben het voordeel dat zeer dikke secties zonder beperking van chromatische aberratie kunnen worden bestudeerd en dat elektronische methoden kunnen worden gebruikt om het contrast en de helderheid van het beeld te verbeteren.