스캐닝 전자 현미경(SEM),입력 전자 현미경의 설계에 대한 직접 공부하는 표면의 물체용의 광선 초점을 맞추 전자의 상대적으로 낮은 에너지로 전자의 프로브가 검사되는 일반 방식을 통해 견본입니다. 빔을 생성하고 초점을 맞추는 전자 소스 및 전자기 렌즈는 투과 전자 현미경(tem)에 대해 설명 된 것과 유사합니다., The action of the electron beam stimulates emission of high-energy backscattered electrons and low-energy secondary electrons from the surface of the specimen.
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정교한 시편 준비 기법이 필요한 시험에 SEM,그리고 크고 부피가 큰 표본을 하실 수 있습니다. 시편이 전기적으로 전도 렌더링되는 것이 바람직하다;그렇지 않으면 날카로운 그림을 얻을 수 없습니다., 전도성은 일반적으로 달성하여 증발의 필름,금속 등으로 골드,50-100 옹스트롬 두꺼운에 표본은 진공에서(이러한 두께의 실질적인 영향을 미치지 않는 해상 표면의 상세정보). 그러나 sem 을 1~3 킬로 볼트의 에너지로 작동시킬 수 있다면 금속 코팅이 필요없이 비전도성 시편조차도 검사 할 수 있습니다.,
박사 데니스 쿤켈/Phototake
스캐닝 기기와 결합되어있 TEMs 을 만들 스캐닝 전송 전자 현미경., 이러한 장점을 가지고 매우 두꺼운 섹션에서도 공부한 색수차 없이 제한 및 전자적인 방법이 될 수 있을 향상시키기 위해 사용되는 콘트라스트 및 밝기의 이미지입니다.
